Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories /

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक:	Chakraborty, Kanad
अन्य लेखक:	Mazumder, Pinaki
स्वरूप:	पुस्तक
भाषा:	अंग्रेज़ी
प्रकाशित:	New Delhi : Prentice Hall, c2002.
विषय:	Random access memory > Reliability. Integrated circuits > Fault tolerance. Semiconductor storage devices.
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विवरण
भौतिक वर्णन:	xix, 426 p. : ill. ; 24 cm.
ग्रन्थसूची:	Includes bibliographical references (p. 377-417) and index.
आईएसबीएन:	0130084654 8120322142

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