Fault-Tolerance and Reliability Techniques for High-Density Random-Access Memories /
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| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New Delhi :
Prentice Hall,
c2002.
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| Beschreibung: | xix, 426 p. : ill. ; 24 cm. |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical references (p. 377-417) and index. |
| ISBN: | 0130084654 8120322142 |