Surface and thin film analysis : a compendium of principles, instrumentation, and applications /
Збережено в:
| Інші автори: | , |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Weinheim :
Wiley-VCH,
c2011.
|
| Редагування: | 2nd, completely rev. and enlarged ed. |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | Contributor biographical information Publisher description Table of contents only |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|