Active Probe Atomic Force Microscopy

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Xia, Fangzhou
Այլ հեղինակներ: Rangelow, Ivo W., Youcef-Toumi, Kamal
Ձևաչափ: էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Springer Nature, 2024.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:Access eBook
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 a 4500
001 27070
005 20261004183628.0
008 261004s2024 o 000 eng
020 |a 978-3-031-44233-9 
100 1 |a Xia, Fangzhou  |9 55745 
700 1 |a Rangelow, Ivo W.  |9 55746 
700 1 |a Youcef-Toumi, Kamal  |9 55747 
245 0 0 |a Active Probe Atomic Force Microscopy 
260 |b Springer Nature,  |c 2024. 
300 |a 1 online resource 
650 4 |a Physics and Astronomy 
538 |a Mode of access: World Wide Web. 
856 4 0 |u https://library.mist.ac.bd/ebooks/13141/go?src=vufind  |z Access eBook 
942 |c EBOOK 
999 |c 27070  |d 27070