Hakan Kuntman, D. Ö. (2025). Reliability of CMOS Analog ICs. Springer Nature. https://doi.org/10.1007/978-3-031-85455-2
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Чикаго стиль цитування (17-те видання)
Hakan Kuntman, Deniz Özenli. Reliability of CMOS Analog ICs. Springer Nature, 2025. https://doi.org/10.1007/978-3-031-85455-2.
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Стиль цитування MLA (9-ме видання)
Hakan Kuntman, Deniz Özenli. Reliability of CMOS Analog ICs. Springer Nature, 2025. https://doi.org/10.1007/978-3-031-85455-2.
Успішно скопійовано в буфер обміну
Не вдалося скопіювати в буфер обміну
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.